独家:NTT推算通信装置一年至少发生3万起“软错误”

©日本一般社团法人共同通讯社

  【共同社3月22日电】21日从对日本NTT公司等的采访获悉,关于来自太空的放射线(宇宙射线)导致电子设备运转暂时出错的“软错误”现象,据推算NTT国内网络通信装置一年中至少发生3万至4万起。其中大部分会被设备的安全装置自动纠正,但专家指出该现象也可能导致通信故障。

  获悉支撑国内信息基础设施的通信装置发生软错误的规模尚属首次。

  宇宙射线与大气层中的氧气或氮气撞击就会产生中子。这些中子与电子设备的半导体碰撞后,内部保存的数据被改写引发错误的现象即为软错误。随着半导体小型化、高性能化的电子设备骤增,软错误也在增多。除引起电脑和手机死机外,在海外还出现过被指为飞机事故原因的情况。

  熟悉软错误问题的大阪大学研究生院教授桥本昌宜表示,在国内外的通信和工厂也已造成实际损害,并指出:“今后,人工智能(AI)和自动驾驶等社会基础设施对电子设备的依赖度越高,就越有可能产生较大影响。”他强调政府和企业等有必要推进研究和应对。

  软错误无法像物理性故障一样再现,难以锁定原因和采取对策。为此,NTT通过向半导体照射中子的实验测定软错误的发生频率。该公司推算出其在日本国内的服务器等通信装置每天会发生约100起软错误。

  NTT未透露是否实际发生通信故障,但表示“基于实验和推算,已确认设备设计和安全装置的性能,正在采取避免信息基础设施受到较大影响的对策”。(完)